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  • X-ray元器件無損檢測(cè)失效分析 材料檢測(cè)服務(wù)
    X-ray元器件無損檢測(cè)失效分析 材料檢測(cè)服務(wù)

    X-ray元器件無損檢測(cè)失效分析:X-ray檢測(cè)是一種發(fā)展成熟的無損檢測(cè)方式,目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無損檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-11-06訪問量:694
  • 焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),專業(yè)元器件分析第三方
    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),專業(yè)元器件分析第三方

    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),專業(yè)元器件分析第三方:廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線透視(xray)試驗(yàn)設(shè)備,并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-11-06訪問量:699
  • 離子清潔度測(cè)試 專業(yè)元器件失效分析
    離子清潔度測(cè)試 專業(yè)元器件失效分析

    離子清潔度測(cè)試 專業(yè)元器件失效分析:離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度,由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導(dǎo)致的問題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng),最終引起了短路,過多的電流通過連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-11-06訪問量:668
  • 錫須現(xiàn)象檢測(cè) 材料裝備失效分析
    錫須現(xiàn)象檢測(cè) 材料裝備失效分析

    錫須現(xiàn)象檢測(cè) 材料裝備失效分析:錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶,錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備,經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。

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  • X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析
    X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析

    X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無損檢測(cè)方式,目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無損檢測(cè)。

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  • 氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)
    氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)

    廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可開展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn),轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過10s,溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標(biāo)準(zhǔn)。

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  • 錫須檢查,元器件及裝備失效分析
    錫須檢查,元器件及裝備失效分析

    錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶,錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量錫須檢查,元器件及裝備失效分析服務(wù)擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備,經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。

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  • 離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn)
    離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn)

    離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度,由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導(dǎo)致的問題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng),最終引起了短路,過多的電流通過連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn)服務(wù)。

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